X射线荧光测井工作方法

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具体测井工作与其他测井工作一样，通过井口滑轮将测井探管放入井中，提升时进行测量。可以按点距对异常区段进行逐点测量，也可以连续提升进行连续测量。

由于X射线能量较低，测井之前要进行清水充孔，防止泥浆附着矿层表面。

（一）建立标准

测井的目的是确定矿层厚度、位置和边界，确定矿层中待测目标元素的含量。建立标准是首要工作。

X射荧光测井与 γ测井不同，实际上只是探测窗对应的2π方向；但考虑钻孔内地层含水和井孔充水（也有干孔），建立标准仍以钻孔为准。一般选择穿过矿层的钻孔，且矿化比较均匀，对一个矿区（每种类型）选择2～4 个不同平均含量矿层（岩心提取比较完整）。对每个矿层进行 X射荧光测井，读取每个测点的荧光强度，直到脉石层为止；然后计算对应矿层厚度的总计数率；再对应矿层厚度与位置，进行岩心取样，通过化学分析获得矿层待测元素含量；建立标准曲线，或做必要的基体效应校正，一般以特散比代替荧光强度，使含量与荧光强度呈线性关系（图10-8-3）。按（10-4-1）式计算含量。也可以利用标准曲线，计算单位含量相对应的计数率（荧光强度或特散比）。一般由仪器直接读出含量，也可以输出X射线荧光和散射射线计数率。

图10-8-2 探测窗与推靠装置示意图

图10-8-3 BaKα及If/Is表示的标准曲线

图10-8-4 ZK4725重晶石矿X射线荧光测井剖面

（二）影响因素

X射线荧光测井与前述现场直接测量元素含量一样，存在基体效应、矿石结构和矿化不均匀等影响问题。多一个情况是井中充水。在测井探管设计时，已经考虑了贴井壁装置，使探测窗与井壁之间的水层降到最小。因为钻孔井壁并不规则，探测窗与井壁之间充有薄水层是难免的。

X射线能量越低水的影响越大。根据实验结果，以238Pu为激发源，测量PbLα（10.549keV）1mm厚水层，影响约达3%～5%。如果与标准钻孔一致，则影响可能更小。如果水较厚，应当进行校正。如果矿层有垮孔现象，则X射线荧光测井可能失效。

一般指的是9条标准曲线（常规曲线），即井径曲线、自然伽马曲线、自然电位曲线、声波曲线、补偿密度曲线、补偿中子曲线、电阻率曲线、感应测井曲线和双侧向测井曲线。非常规曲线包括压力曲线、温度曲线等。

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